Dr Dariusz Litwin

W ostatnich latach badanie powierzchni zostało zrewolucjonizowane przez nano-wizualizacyjne techniki takie jak tunelowa mikroskopia skaningowa - scanning tunnelling microscopy (STM) i mikroskopia sił atomowych - atomic force microscopy (AFM). Często się mówi, że nanotechnologia urodziła się we wczesnych latach osiemdziesiątych wraz z wynalezieniem STM. Tematem projektu INA realizowanego w ramach 6PR EU jest zupełnie inna, całkowicie nowatorska technika -skaningowy mikroskop helowy. Polega ona na wykorzystaniu zogniskowanej wiązki niskoenergetycznych atomów helu. Europejscy naukowcy wyraźnie przodują w tym zagadnieniu i zbudowali już pierwszy prototyp. Celem projektu jest podwyższenie rozdzielczości urządzenia z 1.5 mm do 20 nm! Powodzenie w realizacji tego celu zależy od dokładności wytworzenia zwierciadła eliptycznego ogniskującego wiązkę, które stanowi ultra cienka płytka krzemowa. Płytka przybiera wymagany kształt pod wpływem silnego pola elektrostatycznego. Zadaniem INOS jest bardzo dokładne określenie kształtu i grubości płytki zarówno w fazie spoczynkowej jak i po przyłożeniu pola elektrycznego. 

Technika obrazowania za pomocą wiązki atomów helu znajdzie zastosowanie w badaniu wewnętrznej struktury membran przemysłowych i pomiarach ich przepuszczalności. Nie ma obecnie techniki pomiarowej, która pozwalałaby na otrzymanie powyższych informacji.

 Kolejne zastosowania to badanie ultra gładkich powierzchni szkła oraz kryształów protein, które ulegają uszkodzeniu w przypadku użycia standardowych technik.