Automatyczny stolik przesuwny S1 zapewnia przesuw pionowy w zakresie 0-12 mm (z krokiem 0.3175mm.).  Poziomy stolik przesuwny S2 zapewnia automatyczny ruch układu optycznego w zakresie 0-75 mm (z krokiem 0.5mm).  Pozwala to (po wstawieniu odpowiedniej wymiennej głowicy z obiektywem G1 lub G2) na obserwację próbek zarówno w konfiguracji "poziomej" jak i "pionowej", bez rozmontowywania układu i zdecydowanie zwiększa komfort obsługi systemu pomiarowego.  Stolik poziomy S3 (przesuwany za pomocą śruby mikrometrycznej) służy jedynie do ustawienia układu optycznego w pozycji umożliwiającej obserwację pęknięcia, która to pozycja nie jest w trakcie pomiaru zmieniana.  Monochromatyczna kamera CCD umożliwia przesył obrazów (512x512 pixeli) próbek do komputera IBM PC wyposażonego w kartę framegrabbera.  Stoliki przesuwne S1 i S2 są napędzane silnikami krokowymi, których ruch jest sterowany przez komputer za pośrednictwem kontrolera silników krokowych.  Oświetlacz umożliwia optymalizację warunków oświetlenia próbki. 

Układ może pracować w dwóch konfiguracjach pomiarowych: "poziomej" (z głowicą G2) umożliwiającej obserwację próbek z odciskiem vickersa oraz "pionowej" (z głowicą G1) umożliwiającej obserwację próbek z nacięciem poprzecznym.  W konfiguracji "poziomej", powierzchnia próbki z odciskiem vickersa jest skierowana do dołu, a pęknięcia generują się w płaszczyźnie poziomej, równoległej do płaszczyzny podstawy układu optycznego.  Stolik poziomy S2 wykonuje w tej konfiguracji funkcję śledzenia pęknięcia, natomiast stolik pionowy S1 służy do ogniskowania układu optycznego na powierzchni próbki.  W konfiguracji "pionowej" powierzchnia próbki, na której generuje się pęknięcie jest ustawiona pionowo do podstawy układu pomiarowego.  W tej sytuacji stolik poziomy S2 jest stolikiem ogniskującym, natomiast stolik pionowy S1 stolikiem śledzącym pęknięcie. 

Monochromatyczna kamera CCD wraz z framegrabberem rejestruje obrazy o wymiarach 512x512 pikseli w 256 stopniach szarości.  Karta przetworników analogowo - cyfrowych (16 bitowych) służy do odczytu wartości siły oraz ugięcia próbki.