Projekt ma na celu przygotowanie dokumentacji oraz przeprowadzenie procedur patentowych w Polsce, a także rozszerzenie ochrony polskiego zgłoszenia patentowego w europejskim Urzędzie patentowym (zgodnie z procedurą EURO/PCT) oraz walidację uzyskanego patentu w wybranych krajach Unii Europejskiej takich jak: Belgia, Czechy, Francja, Hiszpania, Holandia, Litwa, Łotwa, Niemcy, Włochy, Wielka Brytania, i poza UE: Chiny, Rosja Ukraina, oraz w urzędzie patentowym Stanów Zjednoczonych Ameryki Północnej (zgodnie z procedurą USPTO) oraz walidację w takich krajach jak Japonia i Australia. Do ochrony patentowej zgłoszone zostaną układy wzbudzania rotacyjnej helowej plazmy mikrofalowej znajdujące zastosowanie w emisyjnej spektrometrii optycznej i spektrometrii mas, zastępujące układy powszechnie stosowanej argonowej plazmy indukcyjnej wysokiej częstotliwości. Zastosowanie rotacyjnej helowej plazmy mikrofalowej obniża koszty eksploatacyjne pracy spektrometrów, rozszerza gamę oznaczanych pierwiastków (np. o chlorowce - ze względu na wyższy potencjał jonizacji helu), poprawia granice wykrywalności dla poszczególnych pierwiastków i co szczególnie ważne dla spektrometrii mas znacznie redukuje interferencje poliatomowe. Oba typy spektrometrii są szeroko wykorzystywane w bardzo wielu dziedzinach przemysłu, medycyny i ekologii. Zabezpieczenie wartości intelektualnej na terenie Polski oraz innych Państw UE i poza UE pozwoli na zwiększenie konkurencyjności firm w tym polskich na rynkach globalnych, korzystających z opracowanych rozwiązań.
Od lat sześćdziesiątych ubiegłego wieku coraz większą popularność w emisyjnej spektrometrii optycznej i w spektrometrii mas zdobyło wzbudzanie próbki analitycznej w argonowej plazmie indukcyjnej wys. częstotliwości (ICPOES-Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry i ICP-MS-Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry).Techniki te są obecnie jednymi z najpopularniejszych technik chemii analitycznej (zwłaszcza nieorganicznej) ze względu na spory zakres oznaczanych stężeń bez konieczności rozcieńczania próbki jak też ze względu na dobre granice wykrywalności sięgające dla ICP-OES do 1 ppb (10 ^-7%) a dla ICP-MS dla niektórych pierwiastków nawet do 1 ppt (10^-10 %). Źródło to jednak ma kilka istotnych wad, do których można zaliczyć stosunkowo drogą eksploatację związaną przede wszystkim ze zużyciem gazowego argonu w ilościach od 10 - 20 l/min, słabe wykrywalności dla grupy chlorowców (Cl, Br, I) oraz szczególnie w spektrometrii mas t.zw. interferencje poliatomowe związane z silną tendencją argonu do tworzenia różnych jonów zespolonych mających inną masę atomową niż oznaczany pierwiastek.W zgłoszeniu patentowym PL385484 z 20.06.2008r. pod tytułem:" Sposób i układ nagrzewania plazmy" pokazano sposób uzyskiwania rotacyjnej m.in. helowej plazmy mikrofalowej, ale za pomocą tego sposobu uzyskano nieco za niskie parametry plazmy (m.in. gęstość elektronową w obszarze wzbudzenia) w porównaniu z argonową plazmą ICP. Ponieważ uzyskiwana plazma ma charakter pojemnościowy i wytwarzana jest za pomocą fal elektromagnetycznych doprowadzanych w odpowiednie miejsca urządzenia (źródła) za pomocą elektrod-anten mikrofalowych, to termiczna wytrzymałość elektrod-anten ograniczała zastosowanie mocy zasilania układu. W ramach niniejszego projektu będą opatentowane sposoby umożliwiające zastosowanie wyższych mocy pola mikrofalowego powodującego wyższą gęstość elektronową i inne lepsze parametry plazmy pozwalające na poprawienie granic wykrywalności systemu zarówno spektrometru OES jak i MS.
Według szacunkowych danych rocznie produkowanych jest w skali globalnej 3-4 tysięcy spektrometrów ICP-OES i ICP-MS. Jak dotąd we wszystkich dostępnych komercyjnie spektrometrach stosowana jest w charakterze źródła wzbudzenia argonowa plazma indukcyjna wysokiej częstotliwości. Rotacyjna helowa plazma mikrofalowa (He-RMWP - He-Rotating Microwave Plasma) tańsza w eksploatacji i oferująca lepsze parametry może stanowić przełom w dotychczasowej technice emisyjnej spektrometrii optycznej i spektrometrii mas. W związku z powyższym wydaje się celowe zabezpieczenie własności intelektualnej tego rozwiązania zarówno na terenie Unii Europejskiej jak i na całym świecie.